目的:运用功能磁共振技术研究学习障碍儿童在工作记忆任务时额顶叶功能及结构的缺陷,探讨其发病机理。方法:学习障碍儿童12名及对照组12名以步进式视觉累加实验作为刺激模式,进行血氧水平依赖脑功能成像和弥散张量成像。比较两组额顶叶皮层激活部位、强度及白质兴趣区的部分各向异性值(FA)的差异。结果:①学习障碍组儿童双侧额顶叶皮层激活较正常儿童组弱(P(0.05)。②学习障碍组左额顶间白质(0.51±0.05)、左顶叶白质(0.61±0.03)及左额叶白质(0.43±0.04)的FA值低于对照组(P(0.05)。③学习障碍组儿童左前额叶背侧区激活像素数量的平均值为136.92±19.68,与左额顶间白质FA值存在相关性(r=0.636,P=0.026);对照组儿童激活像素数量的平均值为165.75±24.33,与左额顶间白质FA值存在相关性(r=0.822,P=0.001)。结论:学习障碍组儿童工作记忆过程中存在额顶叶皮层激活缺陷,与该部位白质成熟度较低有关。这可能提示学习障碍的发病机理。