目的 探讨原代神经元牵张损伤模型的改良方法及其可行性。方法 提取出生24 h内SD乳鼠皮层组织进行原代神经元培养,利用智能真空负压机和弹力膜培养板对经典的神经元牵张损伤模型（CIC Ⅱ模型）进行改良,根据弹力膜形变距离将细胞分为对照组（只种植细胞,不做牵张损伤）、轻度损伤组（形变距离7 mm）、中度损伤组（形变距离10 mm）和重度损伤组（形变距离13 mm）。显微镜观察细胞形态变化,NeuN免疫荧光染色鉴定细胞纯度;免疫印迹法检测凋亡相关蛋白（cleaved Caspase-3、Bcl-2）表达,比色法测定培养液乳酸脱氢酶（LDH）活性。结果 原代神经元培养5 d,显微镜下观察发现细胞生长良好,NeuN染色显示神经元纯度在95%以上。中度损伤后即刻,显微镜下发现神经元轴索断裂,部分细胞呈空泡样变。与对照组相比,损伤组cleaved Caspase-3表达水平、细胞培养液LDH水平均明显上升（P＜0.05）,而Bcl-2表达水平明显下降（P＜0.05）。损伤组cleaved Caspase-3表达水平、细胞培养液LDH水平与伤程度呈明显正相关（P＜0.05）,而Bcl-2表达水平与伤程度呈明显负相关（P＜0.05）。结论 新生大鼠皮层体外培养所获原代神经元纯化率较高。本研究改良模型可模拟神经元损伤,使用方便、可重复性好,适合颅脑损伤和细胞力学研究。